GB/T 14849.4-2014工业硅化学分析方法　第4部分：杂质元素含量的测定　电感耦合等离子体原子发射光谱法.pdf

ICS77.120.10 H 12 中华人 民共和 国国家标准 / — GBT14849.4 2014 代替 / — GBT14849.4 2008 工业硅化学分析方法 : 第 部分 杂质元素含量的测定 4 国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页 电感耦合等离子体原子发射光谱法 — Methodsforchemicalanalsisofsiliconmetal y : — Part4Determinationofim uritcontents p y Inductivelcouled lasmaatomicemissionsectrometricmethod y p p p 2014-12-05发布 2015-08-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发 布 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 / — GBT14849.4 2014 前 言 / 《 》 : 工业硅化学分析方法 分为 个部分 GBT14849 9 ——— : , ; 第 部分 铁含量的测定 二氮杂菲分光光度法 1 110- ——— : ; 第 部分 铝含量的测定 铬天青 分光光度法 2 -S ——— : 、 ; 第 部分 钙含量的测定 火焰原子吸收光谱法 偶氮氯膦 分光光度法 3 Ⅰ ——— : ; 第 部分