缺陷检测系统用户手册.doc

缺陷检测算法用户手册 当前版本 V1.0.5 陕西维视数字图像技术有限公司 www.M All rights reserved. No part of this publication may be reproduced, stored in a retrieval system, or transmitted in any form or by any means, electronic, mechanical, photocopying, machine vision, image, recording, or otherwise, without prior written permission of the publisher. Edition 1 2010.2 (Defect 1.0) Microsoft, Windows, Windows XP, Windows Vista, and Visual C++ are either trademarks or registered trademarks of Microsoft Corporation. All Other nationally and internationally recognized trademarks and tradenames are hereby recognized. Revision History Version Date Revision Ver 0.0.1 2010-02-08 Created by MV Ver 0.0.2 2010-02-18 Updated by MV Ver 1.0.3 2010-04-13 Updated by MV Ver 1.0.5 2010-04-29 Updated by MV 摘要 该手册详细介绍缺陷检测（Defect）算法包的功能，并介绍了在Microsoft Visual C++ 2005下的调用方法。 Defect算法支持使用全局匹配初步矫正，局部匹配精细微调的算法架构，对旋转，套印等有很好的检测效果。算法支持图像预处理，对亮度变化、噪声等有很强的抗干扰性。 Defect算法支持彩色图像检测。算法支持各检测区域设置不同的检测参数和检测精度，能够检测细小缺陷。并预留特殊类型缺陷区域的接口。 Key words: 机器视觉，缺陷检测。 目录 Revision History II 摘要 III 目录 IV Figures VI 1 引言 1 1.1 背景 1 1.2 工业产品 2 1.3 缺陷检测系统简介 3 2 算法功能 5 2.1 算法功能概述 5 2.2 算法应用范围 5 2.3 算法主要功能特点 5 3 算法流程及操作说明 7 3.1 算法流程 7 3.2 算法基本操作 7 3.2.1 创建模板 8 3.2.2 管理模板 12 3.2.3 参数管理 13 3.2.4 缺陷分析 15 4 算法调用 17 4.1 文件设置 17 4.2 环境配置 17 4.2.1 头文件包含 17 4.2.2 库文件包含 18 4.3 函数调用 19 4.3.1 设置全局变量nHandle 19 4.3.2 初始化 19 4.3.3 释放资源 19 4.3.4 创建分析模板 19 4.3.5 模板管理 20 4.3.6 参数设置 20 4.3.7 检测缺陷 20 5 算法Demo程序 22 5.1 MV-MIPSDemo简介 22 5.2 界面介绍 22 5.2.1 菜单栏 22 5.2.2 工具栏 24 5.2.3 窗口区 25 5.3 采集设置 26 5.3.1 采集设置 26 5.3.2 采集结果 28 5.4 开始检测 29 6 可行的改进 30 6.1 新缺陷类型 30 6.2 提高现有算法鲁棒性 30 Figures Figure 11 工业LCD产品 2 Figure 12 工业LCD缺陷产品 3 Figure 31 算法流程 7 Figure 32 创建模板功能 8 Figure 34 绘制全局匹配区域 9 Figure 35 绘制检测区域 10 Figure 36 绘制检测区域 10 Figure 37 区域属性设置 11 Figure 38 模板管理 13 Figure 39 参数设置 14 Figure 310 分析缺陷界面 15 Figure 311 分析缺陷 16 Figure 41环境设置 17 Figure 42 lib路径设置 18 Figure 43 lib设置 18 Figure