GB/T 4058-1995硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法.pdf
文本预览下载声明
显示全部
文档详情
相似文档
-
GB/T 4058-2009硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法.pdf
ICS 29. 045
H 80
中华人民共和国国家标准
GB/T 4058—2009
代替 GB/T 4058— 1995
硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
Test method for detection of oxidation induced defects in
-
GB/T 4058-2009硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法.pdf
犐犆犛２９．０４５
犎 ８０
中华人民共和国国家标准
／ —
犌犅犜４０５８ ２００９
代替 ／ —１９９５
-
硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法-北弘传媒.pdf
-
GB/T 6624-1995硅抛光片表面质量目测检验方法.pdf
中华人民共和国国家标准
GB/T6624一1995
硅抛光片表面质量 目测检验方法
代替GB6624-86
Standardmethodformeasuringthesurfacequality
ofpolishedsiliconslicesbyvisualinspection
， 主肠内容与
-
GB/T 6621-1995硅抛光片表面平整度测试方法.pdf
中华人 民共和 国国家标准
GB/T 6621一 1995
硅抛光片表面平整度测试方法
代替G万飞6621一86
Testmethodsforsurfaceflatnessofsiliconpolishedslices
第一篇 方法A
-
GB/T 6621-1995硅抛光片表面平整度测试方法.pdf
中华人 民共和 国国家标准
GB/T 6621一 1995
硅抛光片表面平整度测试方法
代替G万飞6621一86
Testmethodsforsurfaceflatnessofsiliconpolishedslices
第一篇 方法A
-
一种氧化镓抛光片的划片方法.pdf
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114464571 A
(43)申请公布日 2022.05.10
(21)申请号 202110528108.8
(22)申请日 2021.05.14
(71)申请人 陈政委
地址 100089 北京市
-
抛光片和抛光方法.pdf
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 114901431 A
(43)申请公布日 2022.08.12
(21)申请号 202080089981.5 (74)专利代理机构 北京天昊联合知识产权代理
-
GB/T 6624-2009硅抛光片表面质量目测检验方法.pdf
犐犆犛２９．０４５
犎 ８０
中华人 民共和 国国家 标准
／ —
犌犅犜６６２４ ２００９
代替 ／ —
-
硅抛光片表面质量目测检验方法-北弘传媒.pdf
-
GB/T 19921-2018硅抛光片表面颗粒测试方法.pdf
ICS 77.040
H 21 £3©
中华人民共和国国家标准
GB/T 19921—2018
代着 GB/T 19921—2005
硅抛光片表面颗粒测试方法
Test method for particles o
-
GB/T 19921-2005硅抛光片表面颗粒测试方法.pdf
荡昌
中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准
GB/T 19921-2005
硅抛光片表面颗粒测试方法
Testmethodofparticlesonsiliconwafersurfaces
2005-09-19发布
-
GB/T 19921-2018硅抛光片表面颗粒测试方法.pdf
ICS77.040
H21
中华人 民共和 国国家标准
/ —
GBT19921 2018
代替 / —
-
GB/T 19921-2018硅抛光片表面颗粒测试方法.pdf
ICS77.040
H21
中华人 民共和 国国家标准
/ —
GBT19921 2018
代替 / —
-
GB/T 12964-2003硅单晶抛光片.pdf
GB/T12964-2003
前 言
本标准修改采用半导体设备和材料国际组织标准SEMIMl-0997((硅单晶抛光片规范》中的有关
内容，对GB/T12964-1996进行修订而成的。主要在原标准的内容上增加了直径200mm直拉硅单
晶抛光片的内容。
本标准由中国有色金属工业协会提出。
本标准由中国有色金属工业标准计量质量研究所负责归口。
本标准由北