GB/T 14028-2018半导体集成电路　模拟开关测试方法.pdf

ICS 3 1.200 L 56 国； =11:. 中华人民 和国国家标准 G~/ T 14028-2018 代替 GB/T 14028- 1992 半导体集成电路 模拟开关测试方法 Semiconductor integrated circuits- Measuring method of analogue switch 2018-03-15 发布 2018-08-01 实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 14028-2018 目 次 前言 ………………………………… ...……………………………………………………….. I 1 范围 ……………………………………………………………………………………………………… 1 2 规范性引用文件 ………………………………………………………………………………………… 1 3 术语和定义……………………………………………………………………………………………… 1 4 总则 ……………………………………………………………………………………………………… 2 4 . 1 测试环境要求 ……………………………………………………………………………………… 2 4 .2 测试注意事项 ……………………………………………………………………………………… 3 4 .3 电参数符号 ………………………………………………………………………………………… 3 5 参数测试 ……………………………………………………….. ...…... . ..……………………………. 4 5. 1 模拟电压下作范围（V.＼） …………………………………………………………………………… 4 5.2 导通电阻忧。J ……………………………………………………………………………………… 5 5.3 导通电阻路差（6.R on ) ……………………………………………………………………………… 6 5.4 截止态漏极漏电流［ f D ( olfl ] ……………………………………………………………………. 6 5. 5 截止态源极漏电流［ JS(offl J ………………………………………………………………………… 7 5.6 导通态漏电流［ TDS(on) ]……………………………………………………………………………… 8 5.7 开启时间。J ……………………………………………………………………………………… 9 5. 8 关断时间。off ） ……………………………………………………………………………………… 11 5. 9 通道转换时间。ρ ．．． ． ．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．． ． ．．． ．．．．．．． ．．．．．．．．．．．．………………………… 12 5. 10 最高控制频率（／cM ） ……………………………………………………………………………… 1 3 5. 11 截止态隔离度（KOTRR ) …………………………………………………………………………… 14 5. 12 截止态馈通频率(j p ) …………………………………………………………………………… 15 5. 1