基于加速退化试验的漏电信号调理电路性能退化及可靠性研究.pdf

第28卷第1期电机与控制学报Vol.28No.1

2024年1月ElectricMachinesandControlJan.2024

基于加速退化试验的漏电信号调理电路性能退化

及可靠性研究

1,2,31,21,241,21,2

牛峰,张博恒,李贵衡,戴逸华,项石虎,李奎

(1.河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,天津300401;2.河北工业大学省部共建电工装备可靠性

与智能化国家重点实验室,天津300401;3.常熟开关制造有限公司,江苏常熟215500;

4.北京蓝普锋科技有限公司,北京102218)

摘要:在电子电路服役过程中,元器件退化会引起电路输出特性变化,降低电子电路的可靠性。

漏电信号调理电路作为一种电子电路,其可靠性直接决定了漏电断路器的可靠性。以漏电信号调

理电路为研究对象,首先基于灵敏度分析方法确定影响电路性能退化的关键元器件,并对漏电信号

调理电路进行了以温度为加速应力、动作电流值为退化特征量的恒定应力加速退化试验;其次根据

不同温度应力下的试验数据建立基于Wiener过程的漏电信号调理电路性能退化模型,并利用极大

似然估计法求取退化模型的未知参数,进而得出寿命预测的概率密度函数和可靠度函数;最后利用

阿伦尼斯(Arrhenius)方程外推出正常应力下漏电信号调理电路的预测寿命。相关结论可为不同

电子电路的寿命预测及可靠度分析提供支撑。

关键词:加速退化试验;性能退化;退化建模;寿命预测;Wiener过程;电子电路

DOI:10.15938/j.emc.2024.01.006

中图分类号:TM344.6文献标志码:A文章编号:1007-449X(2024)01-0061-08

Performancedegradationandreliabilityofleakagesignalconditioning

circuitbasedonaccelerateddegradationtest

1,2,31,21,241,21,2

NIUFeng,ZHANGBoheng,LIGuiheng,DAIYihua,XIANGShihu,LIKui

(1.KeyLabofElectromagneticFieldandElectricalApparatusReliabilityofHebeiProvince,HebeiUniversityofTechnology,

Tianjin300401,China;2.StateKeyLabofReliabilityandIntelligenceofElectricalEquipment,HebeiUniversityof

Technology,Tianjin300401,China;3.ChangshuSwitchManufacturingCo.,Ltd.,Changshu215500,China;

4.BeijingRunpowerTechnologyCo.,Ltd.,Beijing102218