文档详情

光电子器件的疲劳寿命测试与分析考核试卷.docx

发布：2025-03-27约7.7千字共11页下载文档
文本预览下载声明

光电子器件的疲劳寿命测试与分析考核试卷

考生姓名：答题日期：得分：判卷人：

本次考核旨在评估学生对光电子器件疲劳寿命测试与分析的理解与应用能力，通过分析不同测试方法、评估疲劳寿命的指标及故障机理，培养学生解决实际工程问题的能力。

一、单项选择题（本题共30小题，每小题0.5分，共15分，在每小题给出的四个选项中，只有一项是符合题目要求的）

1.光电子器件疲劳寿命测试中最常用的测试方法是：（）

A.温度测试

B.压力测试

C.循环寿命测试

D.振动测试

2.以下哪个不是光电子器件疲劳寿命测试中的关键参数？（）

A.应力水平

显示全部
相似文档