GB/T 14849.10-2016工业硅化学分析方法 第10部分：汞含量的测定原子荧光光谱法.pdf
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ICS77.120.10
H 12
中华人 民共和 国国家标准
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GBT14849.10 2016
工业硅化学分析方法
:
第 部分 汞含量的测定
10
原子荧光光谱法
—
Methodsforchemicalanalsisofsiliconmetal
y
: —
Part10Determinationofmercurcontent
y
Atomicfluorescencesectrometrmethod
p y
2016-08-29发布 2017-07-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发 布
中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会
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GBT14849.10 2016
前 言
/ 《 》 :
工业硅化学分析方法 分为 个部分
GBT14849 11
——— : , ;
第 部分 铁含量的测定 二氮杂菲分光光度法
1 110-
——— : ;
第 部分 铝含量的测定 铬天青 分光光度法
2 -S
——— : ;
第 部分 钙含量的测定
3
——— : ;
第 部分 杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
4
——— : ;
第 部分 杂质元素含量的测定 射线荧光光谱法
5 X
——— : ;
第 部分 碳含量的测定 红外吸收法
6
———
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